микромир

Конкурс Art of Failure проводится в рамках международного симпозиума IEEE по физическому анализу и анализу отказов интегральных полупроводниковых схем (IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits). На этом конкурсе представляются имеющие художественную ценность фотографии необычных объектов и явлений, которые возникают на кристаллах микросхем и других полупроводниковых приборов, возникшие в результате неисправности или выхода из строя этих кристаллов. 
Люди на пляже (People on the Beach). 

 Поверхность полимидного кристалла, подвергнутого процессу ионного травления.

Крылья (Wings). 

разрывы в пробах кремния, используемого для производства кристаллов микропроцессоров

Терраса Надежды (The Hope Terrace). 

обработанные края кремниевых подложек под взглядом электронного развертывающего микроскопа

Таинственные Джунгли (Mysterious Jungle). 

мембрана из специального материала "прилипла" к коротким частям из углеродной ленты

Счастливая Лягушка (The Happy Frog). 

кристалл одного из чипов, вышедшего из строя в результате теплового пробоя

Серебряные Листья (Silver Leaves). 

кристаллы сульфида серебра, образовавшиеся на поверхности цепи электрического сопротивления

Королевский Слон (The Royal Elephant). 

структура на поверхности кремниевой подложки 

Большой Нос (Big Nose). 

ячейка резистивной оперативной памяти RRAM, состоящаю из никеля (верхняя часть), двуокиси гафния (средняя часть) и кремниевого основания, расплавившегося во время испытаний.

Кулак Победы (Fist of Victory). 

20-микронные структуры из меди, созданные используя технологию нанопроизводства с использованием сфокусированного ионного луча

Лунное затмение (Lunar Eclipse).

конденсатор, часть цепи фильтра нижних частот, поврежденный электростатическим зарядом